Thermoelectrical Characterization of Piezoelectric Diaphragms: Towards a Better Understanding of Ferroelectrics for Future Memory Applications

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ECS Meeting (239. : 2021 : Online) (11.) Silicon Compatible Emerging Materials, Processes, and Technologies for Advanced CMOS and Post-CMOS Applications 11
1. Verfasser:	Vinuesa, G. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Marin, P. (VerfasserIn), Ossorio, O. Gonzalez (VerfasserIn), Sahelices, B. (VerfasserIn), Garcia, H. (VerfasserIn), Castan, H. (VerfasserIn), Duenas, S. (VerfasserIn)
Pages:	11
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2021
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