Profile and Defect Detection Experiences on Section Mills

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	AISTech (2020 : Cleveland, Ohio) AISTech 2020 ; Volume 3
1. Verfasser:	Appio, Marco (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Vitale, Luca (VerfasserIn), Lugnan, Angelo (VerfasserIn)
Pages:	2020
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
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