Charakterisierung eines biaxialbelasteten Risses unter dem ebenen Spannungszustand

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:28. Tagung des DVM-Arbeitskreises Bruchvorgänge, 26. und 27. Februar 1996 in Bremen
1. Verfasser: YUAN, HUANG (VerfasserIn)
Pages:28
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 1996
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