Computed tomography in ordnance: measuring charge density profiles in projectile head caps

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Internationales Symposium über Computertomografie für die Industrielle Anwendung (3 : 1994 : Berlin) International Symposium on Computerized Tomography for Industrial Applications
1. Verfasser:	Waaler, D. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Odegardstuen, G. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1995
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