Schadensanalyse an Komponenten der Mikrosystemtechnik und Mikroelektronik

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Fortschritte in der Metallographie
1. Verfasser:	Faust, W. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Dost, M. (VerfasserIn), Michel, B. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	2003
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