Analysis of stage-I-crack tip strain fields by high resolution strain measurement in the SEM

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Fortschritte in der Metallographie
1. Verfasser:	Schäfer, F. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Grünewald, P. (VerfasserIn), Weiter, L. (VerfasserIn), Thielen, M. (VerfasserIn), Marx, M. (VerfasserIn), Motz, C. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2014
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