Pattern recognition and artificial intelligence : international conference, ICPRAI 2020, Zhongshan, China, October 19-23, 2020 : proceedings

Pattern recognition and artificial intelligence international conference, ICPRAI 2020, Zhongshan, China, October 19-23, 2020 : proceedings

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: ICPRAI (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Lu, Yue (HerausgeberIn), Vincent, Nicole (HerausgeberIn), Yuen, Pong Chi (HerausgeberIn), Zheng, Wei-Shi (HerausgeberIn), Cheriet, Farida (HerausgeberIn), Suen, Ching Y. (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Cham Springer 2020
Schriftenreihe:Lecture notes in computer science 12068
Schlagworte:
Konferenzschrift > Mustererkennung > Textverarbeitung > Deep learning > Bildverarbeitung > Bildgebendes Verfahren > Forensik
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:xx, 741 Seiten
Diagramme
ISBN:9783030598297
978-3-030-59829-7