Proceedings, forty-ninth annual meeting / Electron Microscopy Society of America San Jose, California, 4 - 9 August 1991

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Electron Microscopy Society of America (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Bailey, G. W. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: San Fracisco, Calif. San Francisco Press 1991
Schlagworte:
Konferenzschrift
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Beschreibung:XXXVII, 1141 S.
Ill., graph. Darst.