Proceedings, forty-ninth annual meeting / Electron Microscopy Society of America San Jose, California, 4 - 9 August 1991

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Electron Microscopy Society of America (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Bailey, G. W. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: San Fracisco, Calif. San Francisco Press 1991
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