Interface-Risse in Komponenten der Mikro- und Nanoelektronik

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	38. Tagung des DVM-Arbeitskreises Bruchvorgänge
1. Verfasser:	AUERSPERG, J. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	MICHEL, B. (VerfasserIn), WALTER, H. (VerfasserIn)
Pages:	38
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2006
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