Artificial Neural Networks Estimation for Thicknesses of Multilayer Nano-Scale Films

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Conference on Sensors, Materials and Manufacturing (2. : 2018 : Taipeh) Advanced materials and processing technologies
1. Verfasser:	Wu, T. D. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Chen, J. S. (VerfasserIn), Tseng, C. P. (VerfasserIn), Hsieh, C. C. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
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