Talbot-Lithografie und deren Anwendung zur Realisierung eines Kreuz-Echelle-Spektrometers

Dissertation, Technische Universität Ilmenau, 2020

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Thomae, Daniel (VerfasserIn)
Körperschaft:	Technische Universität Ilmenau (Grad-verleihende Institution)
Weitere Verfasser:	Sinzinger, Stefan (AkademischeR BetreuerIn), Brunner, Robert (AkademischeR BetreuerIn), Bartelt, Hartmut (AkademischeR BetreuerIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Ilmenau 2020
Schlagworte:	Hochschulschrift > Spektrometer > Echellegitter > Huygenssches Prinzip > Lithografie > Spektrale Interferenz
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis Abstract
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