Charakterisierung dünner Edelmetallfilme auf Ruthenium-Oberflächen mittels Xenon-Adsorption und Photoelektronenspektroskopie

Bonn, Univ., Diss., 1994

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schick, Matthias (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 1993
Schlagworte:
Hochschulschrift > Ruthenium > Kristallfläche > Edelmetall > Dünne Schicht > Xenon > Adsorption
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