Capability of SiC MOSFETS under Short-Circuit Tests and Development of a Thermal Model by Finite Element Analysis

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	European Conference on Silicon Carbide and Related Materials (12. : 2018 : Birmingham) Silicon carbide and related materials 2018
1. Verfasser:	Cavallaro, D. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Pulvirenti, M. (VerfasserIn), Zanetti, E. (VerfasserIn), Saggio, M. G. (VerfasserIn)
Pages:	2018
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Keine Ergebnisse!