Electrical Characterisation of Thick 3C-SiC Layers Grown on Off-Axis 4H-SiC Substrates

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	European Conference on Silicon Carbide and Related Materials (12. : 2018 : Birmingham) Silicon carbide and related materials 2018
1. Verfasser:	Li, F. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Jokubavicius, V. (VerfasserIn), Jennings, M. R. (VerfasserIn), Yakimora, R. (VerfasserIn), Tomas, A. Perez (VerfasserIn), Russell, S. (VerfasserIn), Sharma, Y. (VerfasserIn), Roccaforte, F. (VerfasserIn), Mawby, P. A. (VerfasserIn), Via, F. La (VerfasserIn)
Pages:	2018
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
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