AMPLITUDE RATIO: A NEW METRIC FOR MILLING STABILITY IDENTIFICATION

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	North American Manufacturing Research Conference (45. : 2017 : Los Angeles, Calif.) 45th North American Manufacturing Research Conference 2017 (NAMRC 45) ; Part 1 of 2
1. Verfasser:	Rubeo, Mark A. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Schmitz, Tony L. (VerfasserIn)
Pages:	45
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2017
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