Fast Power Integrity Estimation Method by Use of LSI Power-pin Model

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	2010 IEEE CPMT Symposium Japan
1. Verfasser:	Harada, Takashi (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Ogawa, Masashi (VerfasserIn), Kusumot, Manabu (VerfasserIn)
Pages:	2010
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2010
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