Untersuchung der physikalisch-chemischen Eigenschaften von ITO/Si- und ITO/GaAs-Hererokontakten Abhängigkeiten chemischer Reaktionen im Bereich des Interfaces und der Verarmungsrandschicht von einer unterschiedlichen thermischen Nachbehandlung
Berlin, Univ., Diss. : 1994
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| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | ger |
| Veröffentlicht: |
1994
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