Random access memory testing, theory and practice the gains of fault modelling

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Veenstra, P. K. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Eindhoven Eindhoven Univ. of Technology 1986
Schriftenreihe:	EUT report E / Department of Electrical Engineering, Eindhoven University of Technology / Eindhoven University of Technology 161
Schlagworte:	Forschungsbericht
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