Developments in the use of failure rate data and reliability prediction methods for hardware

Delft, Techn. Univ., Diss., 2000

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Smith, David J. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2000
Schlagworte:	Hochschulschrift > Computer > Hardware > Sicherheit > Ausfallwahrscheinlichkeit > Risikoanalyse
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	Delft, Techn. Univ., Diss., 2000
ISBN:	0951656260 0-9516562-6-0