Ion beam analysis : fundamentals and applications

Ion beam analysis fundamentals and applications

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Nastasi, Michael (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Mayer, James W. (VerfasserIn), Wang, Yongqiang (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Boca Raton, Fla. u.a. CRC Press 2015
Schlagworte:
Ion bombardment > Ionenstrahlanalyse
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Beschreibung
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
ISBN:9781439846384
978-1-4398-4638-4
1439846383
1-4398-4638-3