Measurement of the drift velocities of electrons and holes in high-ohmic <100> silicon

Zugl.: Hamburg, Univ., Masterarbeit, 2014

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Scharf, Christian (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Hamburg, Zeuthen DESY 2014
Schriftenreihe:	DESY Thesis 2014-015
Schlagworte:	Silicium > Einkristall > Elektronischer Transport > Flugzeitspektrometrie > Hochschulschrift > Forschungsbericht
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Zugl.: Hamburg, Univ., Masterarbeit, 2014
Beschreibung:	Text in engl. - Zusfassung in dt. u. engl. Sprache
Beschreibung:	71 S. graph. Darst.