Defect and microstructure analysis by diffraction

Defect and microstructure analysis by diffraction

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Union of Crystallography (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Snyder, Robert L. (BerichterstatterIn), Fiala, Jaroslav (BerichterstatterIn), Bunge, Hans J. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Oxford u.a. Oxford Univ. Press 1999
Ausgabe:1. publ.
Schriftenreihe:IUCR monographs on crystallography 10
Schlagworte:
Crystals > Defects > Diffraction > X-ray crystallography > Aufsatzsammlung > Kristall > Gitterbaufehler > Röntgendiffraktometrie > Diffraktometrie > Röntgenstrukturanalyse
Online Zugang:Inhaltstext
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Beschreibung
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:XXII, 785 S.
graph. Darst.
ISBN:0198501897
0-19-850189-7