Auswertung von Messungen mit Optimierungsverfahren - demonstriert an Interferometrie und Ellipsometrie
Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1995
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | ger |
Veröffentlicht: |
Berlin
Techn. Univ., Univ.-Bibliothek, Abt. Publ.
1996
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Schriftenreihe: | Berichte der technischen Optik
33 |
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