$Defect and microstructure analysis by diffraction$

Defect and microstructure analysis by diffraction

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Snyder, Robert L. (BerichterstatterIn), Fiala, Jaroslav (BerichterstatterIn), Bunge, Hans-Joachim (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Oxford u.a. Oxford Univ. Press 2005
Ausgabe:	Repr.
Schriftenreihe:	Monographs on crystallography 10
Schlagworte:	Crystals > Defects > Diffraction > X-ray crystallography > Aufsatzsammlung > Kristall > Gitterbaufehler > Röntgendiffraktometrie > Mikrostruktur
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