Test pattern generation using Boolean proof engines

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Drechsler, Rolf (BerichterstatterIn), Eggersglüß, Stephan (BerichterstatterIn), Fey, Görschwin (BerichterstatterIn), Tille, Daniel (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Dordrecht, London Springer 2009
Schlagworte:	Integrated circuits > Verification > Automatic test pattern generation > Automatic test equipment > Computer algorithms > Algebra, Boolean > Computer software > Integrierte Schaltung > Hardwareverifikation > ATPG
Online Zugang:	Cover Inhaltsverzeichnis Inhaltstext
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