Acoustic scanning probe microscopy

The combination of atomic force microscopy with ultrasonic methods allows the nearfield detection of acoustic signals. The nondestructive characterization and nanoscale quantitative mapping of surface adhesion and stiffness or friction is possible. The aim of this book is to provide a comprehensive...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Weitere Verfasser:	Marinello, Francesco (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin, Heidelberg Springer 2013
Schriftenreihe:	Nanoscience and technology
Schlagworte:	Scanning probe microscopy > Acoustic microscopy > Rasterkraftmikroskopie > Akustische Mikroskopie > Rastersondenmikroskopie
Online Zugang:	Cover Inhaltstext Inhaltsverzeichnis
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