Metallographische Untersuchungen in der Halbleitertechnik

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Fortschritte in der Metallographie
1. Verfasser:	Schulz, Manfred (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1965
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Titel	Jahr	Verfasser
Metallographische Untersuchungen in der Halbleitertechnik	1965	Schulz, Manfred
Erfahrungen bei der Gefügeentwicklung durch Anwendung des Interferenzkontrastes nach Normarski	1965	Spies, Heinz-Joachim
Untersuchung des ausscheidungsverhaltens des Chromkarbids Me23C6 in austenitischen Stählen durch elektrolytische Phasenisolierung	1965	Löbl, Karel
Anwendung der Röntgenmikrosonde und des Elektronenmikroskops für Untersuchungen von Chrom-Nickel-Stählen mit Zweiphasenstruktur	1965	Vyklický, Miroslav
Anwendung der Autoradiographie zur Bestimmung der Inhomogenität von Legierungen	1965	Radwan, Maciej
Metallographische Untersuchungen an römisch-norischen Eisenfunden	1965	Neubeck, Annegret
Neuere Methoden und Geräte zur mikroskopischen Gefügeuntersuchung	1965	Gabler, Fritz
Methoden zur Erzielung optimaler Randschärfen bei der metallographischen Schliffherstellung	1965	Illgen, Lothar
Beitrag zum Vibrationspolieren von metallographischen Schliffproben	1965	Illgen, Lothar
Zum Einfluß verschiedener Herstellungsverfahren auf die Oberfläche von Proben für metallographische Untersuchungen	1965	Spies, Heinz-Joachim
Probleme der Gußeisenmetallographie	1965	Jähnig, Werner