High-resolution X-ray line profile analysis and its application

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Beiträge zur Struktur- und Gefügeanalyse von Werkstoffen
1. Verfasser:	Ungár, T. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1988
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Titel	Jahr	Verfasser
Stand und Entwicklungstendenzen der kinematischen Beugungstheorie für reale Kristalle	1988	Krivoglaz, Michail A.
Comparison of dislocation densities in plastically deformed polycrystals as determined by X-ray analysis and TEM	1988	Ivanov, A. N.
Anwendung der Synchrotronstrahlung zur Struktur- und Gefügeanalyse	1988	Höche, H. R.
Neue Techniken der Rastermikroskopie	1988	Barthel, J.
Neuere Ergebnisse der Eigenspannungsforschung	1988	Macherauch, Eckard
Anwendung der stochastischen Geometrie bei der Untersuchung von Gefügeinhomogenitäten in metallischen Werkstoffen	1988	Stoyan, Dietrich
75 Jahre Entdeckung der Röntgeninterferenzen : Beiträge der Struktur- und Gefügeanalyse zur Entwicklung der Werkstoffwissenschaft	1988	Bergner, Dietrich
Methodik der röntgenographischen Analyse von beschichteten Werkstoffen	1988	Oettel, Heinrich
High-resolution X-ray line profile analysis and its application	1988	Ungár, T.
Möglichkeiten und Probleme der Beugungsanalyse an strukturell inhomogenen Vielkristallen	1988	Klimanek, Peter
Strukturanalyse nichtkristalliner Festkörper mittels Röntgengroßwinkelbeugung	1988	Herms, Gerhard
Simulation von Elektronenbeugungsdiagrammen und ihre Anwendung	1988	Neumann, W.
Quantitative Beschreibung von heterogenen Karbidverteilungen in Stählen	1988	Rys, J.