Bestimmung von Spurenelementen in hochreinem Siliciumcarbid mittels ETV-ICP-OES

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Freiberger Siliciumtage (2003 : Freiberg) Freiberger Siliciumtage 2003
1. Verfasser:	Bertram, R. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Siche, D. (VerfasserIn), Hassler, Jürgen (VerfasserIn), Perzl, Peter R. (VerfasserIn)
Pages:	2003
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	2004
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