Spurenelementverteilung in Siliciumcarbid-Einkristallen - Vergleich analytischer Feststoffmethoden

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Freiberger Siliziumtage (5 : 2005 : Freiberg) Freiberger Siliziumtage 2005
Körperschaften:	Institut für Kristallzüchtung (VerfasserIn), Gesellschaft zur Förderung Angewandter Optik, Optoelektronik, Quantenelektronik und Spektroskopie (VerfasserIn), Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (VerfasserIn), Institute for Analytical Sciences (VerfasserIn)
Pages:	2005
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	2006
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