Potential and challenges of compound semiconductor characterization by application of non-contacting characterization techniques

Dissertation, Technische Universität Bergakademie Freiberg, 2015

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Anger, Sabrina (VerfasserIn)
Körperschaft:	Technische Universität Bergakademie Freiberg (Grad-verleihende Institution)
Weitere Verfasser:	Niklas, Jürgen (AkademischeR BetreuerIn), Wellmann, Peter (AkademischeR BetreuerIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Freiberg 2015
Schlagworte:	Hochschulschrift > Indiumphosphid > Siliciumcarbid > Verbindungshalbleiter > Gitterbaufehler > Photolumineszenz
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