Weiterentwicklung von SiC/W-Masken und Anwendung der Röntgenlithografie zur Herstellung von komplexen VlSI-Schaltungen 2. Zwischenbericht ; Berichtszeitraum 1.1.89 - 30.6.89
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | ger |
Veröffentlicht: |
Hamburg
Philips GmbH, Forschungslaboratorium
1989
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Schriftenreihe: | FB / Forschungsabteilung Angewandte Materialforschung, Philips GmbH, Forschungslaboratorium Hamburg
697 |
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Beschreibung: | Förderkennzeichen: BMFT NT2769B8. - Literaturang |
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Beschreibung: | 116 S Ill., graph. Darst |