Density difference measurements on silicon single-crystals by the temperature-of-flotation method

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Kozdon, Andrzej (VerfasserIn)
Körperschaft:	Physikalisch-Technische Bundesanstalt Abteilung Wärme (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Wagenbreth, Helmut (VerfasserIn), Hoburg, Detlev (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bremerhaven Wirtschaftsverl. NW, Verl. für neue Wissenschaft 1990
Schriftenreihe:	PTB-Bericht W 43 Physikalisch-Technische Bundesanstalt Abt. Wärme : Bericht : W 43 Bericht. Physikalisch-Technische Bundesanstalt : W 43
Schlagworte:	Silicium > Einkristall > Dichtebestimmung > Schwebemethode
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