Optical characterizations of porous silicon by synchroton radiation reflectance spectra analyses
Gespeichert in:
| Weitere Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
Tokyo
Inst. for Solid State Physics, Univ. of Tokyo
1993
|
| Schriftenreihe: | Technical report of ISSP Series A
2644 |
| Schlagworte: | |
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