Refinement of the Si(111) √3x√3-Ag structure by surface X-ray diffraction

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Takahashi, Toshio (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Nakatani, Shinichiro (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Tokyo Inst. for Solid State Physics, Univ. 1992
Schriftenreihe:	Technical report of ISSP Series A 2587
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!