Industrial applications of optical inspection, metrology, and sensing : 19 - 20 November 1992, Boston, Massachusetts

Industrial applications of optical inspection, metrology, and sensing 19 - 20 November 1992, Boston, Massachusetts

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Brown, Gordon M. (HerausgeberIn), Harding, Kevin G. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 1993
Schriftenreihe:SPIE proceedings series 1821
Schlagworte:
Quality control > Optical methods > Optical instruments > Industrial applications > Optical detectors > Konferenzschrift
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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