Elektronisch induzierte Veränderungen von amorphen Siliziumschichten mit dem Rastertunnelmikroskop

München, Techn. Univ., Diss. : 1992

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Hartmann, Elmar (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	München 1992
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