Yield modelling and defect tolerance in VLSI : papers presented at the International Workshop on Designing for Yield, Oxford, 1-3 July 1987

Yield modelling and defect tolerance in VLSI papers presented at the International Workshop on Designing for Yield, Oxford, 1-3 July 1987

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Workshop on Designing for Yield (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Moore, Will R. (HerausgeberIn), Maly, W. (BerichterstatterIn), Strojwas, Andrzej J. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bristol, Philadelphia A. Hilger 06-88
Schlagworte:
Konferenzschrift
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Beschreibung:Includes bibliographies and index
Beschreibung:p. cm
graph. Darst
ISBN:085274398X
0-85274-398-X