Thin films: stresses and mechanical properties 5 Symposium held November 28 - December 2, 1994, Boston, Massachusetts, U.S.A. / ed.: Shefford P. Baker ..

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Baker, Shefford P. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Pittsburgh, Pa. Materials Research Society 1995
Schriftenreihe:	Materials Research Society symposia proceedings 356
Schlagworte:	Konferenzschrift > Dünne Schicht > Spannungsanalyse > Mechanische Eigenschaft
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