Lokale quantitative Phasenanalyse an zweiphasigen TiAl(Cr)-Legierungen mittels analytischer Transmissionselektronenmikroskopie

Lokale quantitative Phasenanalyse an zweiphasigen TiAl(Cr)-Legierungen mittels analytischer Transmissionselektronenmikroskopie

Zugl.: Hamburg-Harburg, Techn. Univ., Diss., 1994

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Pfullmann, Thorsten (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Wagner, Richard (BerichterstatterIn), Mecking, Heinrich (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Geesthacht GKSS-Forschungszentrum 1994
Ausgabe:Als Ms. vervielf.
Schriftenreihe:GKSS E, [Externe Berichte] 94,32
Schlagworte:
Forschungsbericht > Hochschulschrift > Bericht > Titanlegierung > Aluminiumlegierung > Chrom > Phasenanalyse > Durchstrahlungselektronenmikroskopie
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