Materials reliability in microelectronics 2 Symposium held April 27 - May 1, 1992, San Francisco, California,U.S.A./eds.: C. V. Thompson ..

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Thompson, C. V. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Pittsburgh, Pa. Materials Research Society 1992
Schriftenreihe:	Materials Research Society symposia proceedings 265
Schlagworte:	Konferenzschrift > Werkstoff > Mikroelektronik > Zuverlässigkeit
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Beschreibung:	IX, 328 S. graph. Darst.
ISBN:	1558991603 1-55899-160-3