CMOS circuit design and test patterns for built-in overcurrent testing

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Vierhaus, Heinrich Theodor (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Camposano, Raul (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Sankt Augustin GMD 1993
Schriftenreihe:	Arbeitspapiere der GMD 727
Schlagworte:	Forschungsbericht
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