Characterization of some technically important defects in semiconductors

Lund, Univ., Diss. 1982

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Meijer, Erik (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1982
Schlagworte:	Hochschulschrift > Halbleiter > Gitterbaufehler
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Lund, Univ., Diss. 1982
Beschreibung:	getr. Zählung