Agglomerate atomarer Fehlstellen in Silizium Swirl-Defekte und Strahlenschädigung; eine Untersuchung mit Hilfe der Hochspannungselektronenmikroskopie

Stuttgart, Univ., Diss., 1976

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Föll, Helmut (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 1976
Schlagworte:
Hochschulschrift > Hochspannungselektronenmikroskopie > Silicium > Strahlenschaden > Gitterbaufehler
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