Three-dimensional force microscopy with atomic resolution
Dissertation, Yale University, 2008
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Ann Arbor, MI
ProQuest LLC
2008
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Zusammenfassung: | Dissertation, Yale University, 2008 |
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Beschreibung: | XII, 199 Seiten Illustrationen |
ISBN: | 9780549651536 978-0-549-65153-6 |