Ein hochfrequentes Meßverfahren zur Bestimmung des spezifischen Widerstandes von Halbleitern-Einkristallen

Karlsruhe, T. H., F. f. Maschinenw., Diss. v. 10. Juli 1963

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Krauß, Hermann (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Karlsruhe 1963
Schlagworte:	Hochschulschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Keine Ergebnisse!