Ein hochfrequentes Meßverfahren zur Bestimmung des spezifischen Widerstandes von Halbleitern-Einkristallen

Karlsruhe, T. H., F. f. Maschinenw., Diss. v. 10. Juli 1963

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Krauß, Hermann (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Karlsruhe 1963
Schlagworte:	Hochschulschrift
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