Surface and interface characterization by electron optical methods : [proceedings of a NATO Advanced Study Institute on the Study of Surfaces and Interfaces by Electron Optical Techniques, held April 4 - 15, 1987, in Erice, Sicily, Italy]

Surface and interface characterization by electron optical methods [proceedings of a NATO Advanced Study Institute on the Study of Surfaces and Interfaces by Electron Optical Techniques, held April 4 - 15, 1987, in Erice, Sicily, Italy]

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Advanced Study Institute on the Study of Surfaces and Interfaces by Electron Optical Techniques (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Howie, Archibald (HerausgeberIn), Valdrè, Ugo (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York u.a. Plenum Press 1988
Schriftenreihe:NATO ASI series Series B, Physics 191
Schlagworte:
Surfaces (Physics) > Analysis > Electron microscopy > Congresses > Konferenzschrift > Oberfläche > Elektronenmikroskopie > Durchstrahlungselektronenmikroskopie > Festkörperoberfläche
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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