Materials analysis by ion channeling : submicron crystallography

Materials analysis by ion channeling submicron crystallography

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Feldman, Leonard C. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Mayer, James W. (VerfasserIn), Picraux, S. T. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York, NY u.a. Academic Press 1982
Schlagworte:
Channeling (Physics) > Solids > Surfaces > Crystals > Defects > Ion bombardment > Crystallography > Festkörperoberfläche > Gitterbaufehler > Channelingstrahlung
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:XIX, 300 S
graph. Darst
ISBN:0122526805
0-12-252680-5